原则上测试样品不回收，线站回收样品安排两到三个月一次，若样品有剩余可安排回收；，同步辐射XAFS测试拟合需求表下载链接：http://cloud，ceshigo，com/s/lo9cepyq，同步辐射XAFS分析，当X射线穿过样品时，由于样品对X射线的吸收，光的强度会发生衰减，这种衰减与样品的组成及结构密切相关，XAFS就是利用X射线入射前后信号变化来分析材料元素组成、电子态及微观结构等信息的光谱学手段。
本期，笔者重点介绍同步辐射XAFS技术，不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；，不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；，不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；，作者以Bi和Bi2O3作为参考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G复合材料中BiL3边XANES光谱（图8），同时利用吸收边特征，根据偶极子选择规则探测电子从2p3/2轨道到空6d轨道的激发。
第二代是同步辐射专用光源，典型设计为利用弯转磁铁产生同步辐射，它们都是电子储存环，通常能量较低，如美国布鲁克海文guo家实验室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步辐射实验室LNLS光源（1，然而XAFS测试的门槛相对较高，一方面是由于国内机时供不应求，如上海光源BL14W1线站的机时申请获批率仅有15%；另一方面，数据解析所涉及的物理知识相对深奥，需要有一定基础的专业人员才能解析出更具有可信度的结果。
