XAFS方法通常具有元素分辨性，几乎对所有原子都具有相应性，对固体（晶体或非晶）、液体、气体等各类样品都可以进行相关测试，XAFS原理示意图，众所周知，通过同步辐射XAFS表征技术可用获得及其丰富的材料电子结构和配位结构信息，可以发现在许多顶刊发表的研究中XAFS都起到了至关重要的作用，扩展边X射线吸收精细结构分析：XAFS原始数据可以分为扩展边X射线吸收精细结构（EXAFS）和近边X射线吸收精细结构（XANES）两部分。
对样品无破坏，可进行原位测试；，能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距度可达0，01Å，在研究中，XAFS越来越成为“标配”，国内越来越多的课题组力图通过该技术进行深入表征，提升研究档次，有鉴于此，湖南大学谭勇文教授课题组[4]对BiSn合金前驱体，采用一步电化学刻蚀的方法，得到了一种新型的Bi基纳米线结构催化剂，该催化剂以高导电性的Bi为金属核，以Sn掺入非晶相BiOx为壳，zui终实现了电化学还原CO2为甲酸的高选择性。
第二代是同步辐射专用光源，典型设计为利用弯转磁铁产生同步辐射，它们都是电子储存环，通常能量较低，如美国布鲁克海文guo家实验室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步辐射实验室LNLS光源（1，然而XAFS测试的门槛相对较高，一方面是由于国内机时供不应求，如上海光源BL14W1线站的机时申请获批率仅有15%；另一方面，数据解析所涉及的物理知识相对深奥，需要有一定基础的专业人员才能解析出更具有可信度的结果。
