组分分析：顾名思义就是分析混合样品中各组分的占比，也是基于XANES的分析方法，常见于原位XAFS实验数据处理，当然也适用于其他混合样品的组分分析，前述的价态分析常常得到非整数价态，有时候可以认为是由结构相近的但是价态不同的两种组分混合构成的，在此基础上可以经组分分析确定不同组分的占比，通过XANES部分图谱，提供原子价态、初步结构的定性分析、电子结构；EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析。
本期，笔者重点介绍同步辐射XAFS技术，不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；，不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；，不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；，作者以Bi和Bi2O3作为参考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G复合材料中BiL3边XANES光谱（图8），同时利用吸收边特征，根据偶极子选择规则探测电子从2p3/2轨道到空6d轨道的激发。
第二代是同步辐射专用光源，典型设计为利用弯转磁铁产生同步辐射，它们都是电子储存环，通常能量较低，如美国布鲁克海文guo家实验室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步辐射实验室LNLS光源（1，然而XAFS测试的门槛相对较高，一方面是由于国内机时供不应求，如上海光源BL14W1线站的机时申请获批率仅有15%；另一方面，数据解析所涉及的物理知识相对深奥，需要有一定基础的专业人员才能解析出更具有可信度的结果。
