全谱分析一般用来说明样品中是否存在某种元素，这是因为能级之间的差距太小，用小通能测XPS可以得到两个分裂峰，但是用高通能的时候发现只有一个峰了，P、Al也是如此，四川XPS的很小分辨一般在0，5eV以上，因此分辨不出来，看起来只有一个峰了，这个时候可以用两个峰，也可以用一个峰来进行拟合，答：不是，如果本身的碳材料是sp2，那就要校正到284eV，且拟合时要增加不对称参数，氧化石墨烯，掺杂石墨烯等常在284~284。
实用XPS定量分析方法可以概括为标样法、元素灵敏度因子法和一级原理模型，目前XPS定量分析多采用元素灵敏度因子法，该方法利用特定元素谱线强度作参考标准，测得其它元素相对谱线强度，求得各元素的相对含量，根据谱峰形状，结合文献对O1s进行峰拟合，分别是530eV左右的ZnO晶格O的峰(OL)、531，XPS常用AlKα或者MgKαX射线为激发源，能检测周期表中除氢、氦以外的所有元素，一般检测限为0。
当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”，荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用，因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差，高分辨谱经过分峰拟合之后，就可以用来确定元素的化学态了，或者通过反应前后样品的高分辨谱图对比来得到其表面电子结构的变化信息等等。
