功能介绍
掠入射X射线散射（GIXS）包括掠入射广角散射（GIWAXS）和掠入射小角度散射（GISAXS），是基于同步辐射光源的X射线散射技术，用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体形状以及晶格中的原子和分子距离，被广泛应用于研究有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池的形貌特征、晶体结构等。
例如在OPV材料结构研究中，GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合，能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构（如纳米颗粒、量子点等）的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。
提供优 质快速的GIXS测试和数据分析服务，目前已同南昌大学、南京理工、华南理工、电子科大等众多OPV、钙钛矿课题组开展测试合作。
制样要求
提示：GIWAXS/GISAXS测试有同步辐射光源和常规光源，请先根据文献或测试需求确认是否需要同步辐射光源测试GIWAXS/GISAXS。
长沙同步辐射检测机构
1.样品测试请提供空白基底样，要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层且测试收费；
2.基底多为单晶硅，可提供，若自行准备尺寸不可超过2.5*2.5cm，1*1cm好，默认样品不回收；
3.测试前请明确测试条件，如q值范围、掠入射角度范围、曝光时间等；
4.如对数据格式、数据处理有疑问，请先浏览数据说明；
5.同步辐射项目测试为机时预约制，需测试前付费预约；
6.请根据材料的耐氧、耐湿等性质，妥善封装样品；
7.如有任何测试相关问题，请联系负责人解答。
