功能介绍
场发射扫描电子显微镜SEM，是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。SEM具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。目前, 扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究,
制样要求
1.如提供TEM的形貌图片，无参考意义;
2.块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末样品大于10mg；
3.块体、片状、薄膜样品请标注测试面；粉末不能测试线扫；
4.含水样品测试时均需干燥后测试；
5.需备注照片倍数；每个样多10张，需要张数请备注；
6.能谱备注理想区域，如有标尺要求请备注，如果没有备注，常规测试；
7.1-4号元素不能测试能谱；BCNOF等超轻元素能谱测试不准，望知晓；
8.图片不再区分小标尺，高倍数20万倍，取消500nm和100nm的区别；
9.送样请先检测磁性并如实告知，因为磁性未说明损伤仪器，需要承担维修费用；
东莞场发射扫描电镜检测
10.关于冷场热场，下单请注明，无说明，随机安排；
11.能谱图上会有文字，不要文字的需要自己处理；
12.若有预期的形貌和标尺、放大倍数，在订单中以文字说明;
13.一些仪器由于软件限制，一些标尺无法输出;
14.能谱说明：点扫、线扫、面扫分别按照一个点、一条线、一个面计费，仅提供一张形貌图，并只用于展示测试位置。多个能谱按照个数计费。
