功能介绍
通过对材料进行X射线衍射，得到其衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息，可用于物相鉴定，粒径表征，点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定，具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点。
制样要求
☆请尽量用样品管送粉末样，用样品袋盛装难以刮下且易损失，可能影响测试效果。
1.粉末样至少50mg（如样品密度偏大，请适量增加），粒度＜200目，手搓无明显颗粒感，越细越好；
2.块体样品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以内；
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3.块体/薄膜样品请注明测试面；
4.较薄的薄膜/涂层样品（厚度＜100nm）请慎重选择广角XRD；
5.微区XRD样品需标记待测点，束斑小为0.01mm，样品高度应不超过8mm，待测面应平整光滑。
