功能介绍
X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要有以下优点：
1.不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；
2.不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；
3.不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；
4.对样品无破坏，可进行原位测试；
5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01Å。
西安同步辐射检测机构
XAFS数据解析可提供以下数据及服务：
1.XANES部分图谱，提供价态、初步结构的定性分析；
2.EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析；
3.wavelet图谱，作为EXAFS拟合的进一步证据，同时用小波炫图提高数据分析“逼格”；
4.帮答复审稿意见中关于XAFS的问题，提供中文回答，但不包括论文写作；
5.同步辐射不参与论文致谢活动，且致谢半价活动于2020年1月1日结束，所有优惠政策不可叠加。